TestE – Minitestsystem

Flexibel – Kostengünstig – Skalierbar

Skalierbar für Low Cost (Minitest) hin zu High Performance (ATE*)
Technologieverbindung für Evaluationboards,Testsyssteme und Geräte
Testsystem-Modell mit Limitationen und Restriktionen in Simulation
Übertragbare, wiederverwendbare Testinhalte für agiles Testen
Erfahrungs- und Testfall basierte Kommunikation aller Beteiligten

Architektur für analoge und digitale Tests

Anwendungsfall

LXI-Gerätesteuerung und Testcase-Validierung

In Kooperation mit der Rigol Technologies EU GmbH hat Viconnis ein innovatives Testkonzept für die Vorvalidierung von LXI Laborinstrumenten gestartet. Mittels der Testsoftware TestC und dem TestE Minitestsystem können ausgewählte Testsequenzen im Vorfeld automatisiert und dokumentiert werden, so dass der Kunde / Labornutzer seine gewünschten Testfunktionen durch Testautomatisierung besonders komfortabel und auf Basis der ergänzenden Testdokumentation reproduzierbar und übertragbar nutzen kann.

Automatisierte Fault Injection für Total Test Coverage

Gemeinsam mit der Razorcat GmbH hat Viconnis ein innovatives Testkozept mit TestC API, TestE Minitestsystem und TESSY 4.1 für Software und Hardwaretest entwickelt.

Automatisierte Fault Injection für Total Test Coverage - Bild 1

1. Bild:
Ohne TestC / Fault Injection, 83,33 % Total Coverage, da der
Rückgabewert der Funktion read_validation_signal() außerhalb des Systems
kommt und nicht durch TESSY beeinflusst werden kann.

Klicks

Automatisierte Fault Injection für Total Test Coverage - Bild 2

2. Bild:
Aktivieren der TestC Stimuli über das Signal b5 in Test Case 1.1.

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Automatisierte Fault Injection für Total Test Coverage - Bild 3

3. Bild:
Eintragen der Fault Injection, vor dem Branch der bisher nicht
abgedeckt wurde bzw. an dem TestC Stimuli ausgeführt werden soll.

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Automatisierte Fault Injection für Total Test Coverage - Bild 4

4. Bild:
Mit TestC ausgeführte Test und Total Coverage 100%.

Klicks

Weitere Informationen zur Software TESSY 4.1 der Razorcat GmbH erhalten sie hier.

INTEGRATIVE TESTARCHITEKTUR

Frühzeitig Analysieren – Testen – Lernen

TestE Minitestsystem

Kommunikation über Ethernet, WLAN
Empfänger für TestC© Testinhalte
Ausführung der Testinhalte
Ergebnis Feedback von TestE zu TestC© zum Abgleich – Pass / Fail
Handover von nativen LXI-Rohdaten zu Testeinheiten (z.B.LXI-Geräte)

Kooperatives Testen mit mehreren TestE Minitestsystemen

Master / Multislave
Mehrere synchronisierte Analog / Digital Stimuli und Response
Just in Time- HW Stimuli für SW Tests

TestE als Testkontrolle und Testausführung

26 Channel GPIO – each driver or expect
Test speed > 1μs / 1MHz , 0v/3,3V digital,
Max 26 analog – out via pwm – 85kSample, max speed 160KS/s- 0.5s
Mini ATE, RPI und HW – Digital Pinelektrionik mit Treiber, Comparator, Active load

Testinstrumente – additiv für TestE

LXI Geräte z.B.
- Oszilloskope, Protokoll-Analyse, Trigger-Option
- Waveform Generator (AWG)
- Digital Power Supply – Sequence Kontrolle mit Trigger-Option

Extension Boards – additiv für TestE

DAC Basisboard – 30k Sampe/s 10bit, 5v, ADC DAC PI *
I2C i2c Expander: Vgl. HW Kontrolle, SW Kontrolle- Transistor – ANALYSE
Transistor / Analog Wave to Speaker
ADC-DAC 12bit, 2x Analog_out 0..2v/0..3.3v 150KS/s SPI 5.4us setup, 1us write
ADC 1xch, 12bit max. Sample 75MS max. Speed 100KS/ch*

*) in Vorbereitung

N

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Flyer

TestE-Raspberry PI Minitestsystem – deutsch

Innovatives Testsystem
zur Testanalyse und Testausführung