Embedded Testing 2017
20-22.06.2017 - München
Viconnis Vortrag auf der Embedded Testing 2017
Tag und Uhrzeit: 22. Juni
2017, 09:00 - 09:45 Uhr
„Unsere Kunden sind qualitätsverantwortlich und brauchen verlässliche Qualitäts- und Nutzennachweise über den gesamten Produktlebenszyklus“
Die aktuell fehlende Vernetzung für eine SW / HW übergreifende Fehlervermeidung / Fehleranalyse lässt Herstellerwünsche offen, weil „Test-Inseln“ Brüchen in der Kommunikation und der Testprozesskette aufweisen. > Mehr Infos
Embedded World 2017
Wir möchten uns mit ein paar Bildern noch einmal bei allen Kunden, Kollegen und Helfern vor und hinter den Kulissen der Embedded World 2017 recht herzlich bedanken.
WIR VERBINDEN IHRE TEST-INSELN
FEHLERVERMEIDUNG UND -ANALYSE
Wir unterstützen Sie im Hardware nahen Testumfeld für IC, Board und Systemtests.
- Vernetztes, intelligentes Testen - Fachdisziplin und Standort übergreifend
- Machbarkeitsprüfung und Qualitätsoptimierung mit bestehenden Ressourcen
- Sichere Zielerreichung für verbesserte Zulassung / Freigabe durch Kunden
- Reduktion von Testzeit, Testkosten und Kundenretouren - Time to Market
- Risikominimierung durch frühe belastbare Testaussagen und Testnachweise
Analysen - Konzepte - Strategien
Validierung - Verifizierung
- Vernetzung