Referenzen

Beteiligung am ZIM/BMWI Projekt "Test the Test" (T3) zur Erforschung und Entwicklung neuer, innovativer Testtechnologien.

Identifiziertes Problemfeld:

Effektivität von Model-, Software- und Hardwaretests automatisiert bewerten. Systeme mittels Fault Injection und Mutationen gezielt Fehler behaften, um die Testqualität und die Testabdeckung über den Gesamttestprozess zu verbessern.

Von Viconnis zu entwickelnde Lösungen:

HW-Test Spezifikation, HW-Testfall Generierung und HW-Testfall Ausführung.

Testumfeld:

System / SW / HW

Weitere beteiligte Unternehmen:

IMACS GmbH, Razorcat GmbH, Universität Augsburg - Softwaremethodik für verteilte Systeme, XITASO GmbH

Embedded System Test für einen großen deutschen Automobilhersteller.

Identifiziertes Problemfeld:

Fehlende bzw. unzureichende Testabdeckung für Unit- Regressions- und Komponententests.

Entwickelte Lösungen:

Testgenerierung von Unittests für Fail Emulation und System Fault Injection via TESSY zur Verbesserung der Gesamt SW/HW Testabedeckung.

Testumfeld:

System / SW

Testautomatisierung und Continuous Integration Umgebung für ein Consumer / Industrial Handheld Tool.

Identifiziertes Problemfeld:

Manuelle Messung und fehlende Validierung der Testumgebung bei Softwareänderungen. Testergebnisse nicht skalierbar und nicht reproduzierbar. Fehlende Vernetzung von Entwicklung zur Kleinserie.

Entwickelte Lösungen:

Vollautomatisierte und erweiterbare Testumgebung, die im Rahmen der Continuous Integration und Deployment die Auswirkungen verifiziert. Sofortige reproduzierbare Validierung und skalierbare Testumgebung mittels SDK auf Basis RaPI.

Testumfeld:

SW / HW 

Security Tests für Blockheizkraftwerk (BHKW) und individuelle Rechtevergabe im Industriesegment.

Identifiziertes Problemfeld:

Notwendigkeit einer stabilen Erkennung der Token HW.

Individualisierung der Rechtevergabe von PKI/ Zertifikaten und Token

Entwickelte Lösungen:

Automatisierte Konfiguration und Installation für Industrie PC (IPC). Applikative Lösung beim IPC-Hersteller verbunden mit direkter Auslieferung an Kunden.

Testumfeld:

System / SW / HW / Kommunikation 

Test-Analyse, -Konzept und -Validierung für Sensor-Produkte aus dem Bahn / Automotive-Segment.

Identifiziertes Problemfeld:

Späte Fehlerentdeckung bei Produkten kurz vor Auslieferung.
Sub-System Tests mit hohen Kosten- und Zeitaufwand. Generationswechsel bei Mikrocontrollern und Testsystemen.

Entwickelte Lösungen:

Testkonzeptentwicklung zur verlässlichen Fehleranalyse und frühzeitigen Fehlervermeidung. Generierung übertragbarer Testinhalte für verwendete Testsysteme. Modernisierung von Testsystemen u.a. mit LXi-Instrumenten.

Testumfeld:

SW / HW / Kommunikation 

Fehlerausschluss für medizintechnische Bauelemente im Segment HiTech Medical Solutions.

Identifiziertes Problemfeld:

Analyse multidimensionaler, seltener Fehler.

Gewährleistung der Produktsicherheit über alle Testdomain Fehlerausschluß vor Auslieferung.

Entwickelte Lösungen:

Entwicklung durchgängig übertragbarer Testinhalte für unterschiedliche Interfaces mittels Testkoordinationssoftware und SDK. Tests für Fail Analysis vom Prototyp über Entwicklung hin zur Produktion.

Testumfeld:

SW / HW / Kommunikation 

Early Test Verification für einen großen deutschen Halbleiterhersteller.

Identifiziertes Problemfeld:

Späte widersprüchliche Testergebnisse auf unterschiedlichen Testsystemen aus Entwicklung (EU) und in Produktion (Far-East). Fehlende technische und kommunikative Vernetzung.

Entwickelte Lösungen:

Analyse und SWOT, Generierung und Validierung von übertragbaren Testinhalten für Simulations-, Entwicklungs- und Produktionstests zur frühzeitigen Risikobewertung und Machbarkeitsprüfung. Fachbereichs und Standort übergreifende Nutzung und Korrelation der Testergebnisse.

Testumfeld:

Simulation / SW / HW / Kommunikation